檢驗分析設備專區

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    全溫譜介電阻抗溫譜儀dielectric resistance temperature spectrometer

    全溫譜介電阻抗溫譜儀

    全溫譜介電阻抗溫譜儀(dielectric resistance temperature spectrometer)可直接測量樣品的介電常數和介電損耗，隨溫度、頻率、時間、偏壓等變化的曲線，可以測量阻抗和相位角隨溫度、頻率、時間、偏壓等變化的曲線，同時還可以測量壓電材料的機電耦合系數Kp和Qm隨溫度變化的曲線等，廣泛應用於在電介質陶瓷方面的研究。
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    高壓極化裝置-壓電陶瓷材料(MPD)

    壓電陶瓷需要經過極化後才具備壓電性能，所謂極化就是在壓電陶瓷上提供較強之直流電場並保持一定的溫度和時間，使陶瓷中的電籌沿電場方向取向排列，又稱為人工極化處理。
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    高溫電阻性能測試儀

    電阻性能測試儀可個別對於導電材料、半導體材料、絕緣材料及半導體薄膜材料這四種材料，應用於分析高溫、真空、惰性氣體條件下被測試樣品的電阻、電阻率、方塊電阻、體積電阻、表面電阻..等，同時還可以分析被測試樣品隨溫度、時間變化之曲線。
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    離子層析儀Ion Chromatography

    離子層析儀

    離子層析儀(Ion Chromatography)是一款結構簡單的高穩定離子層析儀，配置搭配操控簡易的層析軟體，不僅可對各儀器、功能部件的智慧控制，還具有強大的資料處理功能。
    藉著國際領先的管柱技術，通過配置電導檢測器、安培檢測器，可對陰、陽離子及氰根、碘離子、糖、小分子有機酸...等的分析。
    廣泛適用於環保、醫療、化工、土壤環境、礦冶...等領域。
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    全自動乾溼式雷射分析儀Laser Particle Size Analyzer

    乾溼式雷射粒徑分析儀

    全自動乾溼式雷射分析儀採用乾濕分離設計，使用快捷方便，是高端顆粒測試、研究的最佳選擇。
    智能操作模式，支持一鍵操作，點擊“自動測試”，然後按提示加入樣品，其他所有操作自動完成。不僅減輕了測試員的工作量，而且消除了人為因素的干擾誤差。
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    動態雷射粒徑分析儀Dynamic Light Scattering

    動態雷射粒徑分析儀-DLS

    DLS測試原理─採用動態光散射原理與光子相關光譜，根據顆粒在液體中的布朗運動速度測試顆粒大小。依循大小顆粒的運動速度不同，經雷射照射，不同大小的顆粒將使散射光產生快慢不同的漲落起伏，再透過光子相關光譜法，根據特定角度觀察光子漲落分析顆粒尺寸。 獨特極高的辨識度─採用PCS技術測定奈米等級之顆粒，能夠分辨奈秒級(ns)之信號起伏。
    高靈敏度與雜訊比─專業級高性能光電倍增管(PMT)對於光子訊號有極高的靈敏度與雜訊比。
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    影像粒徑分析儀

    顆粒影像形貌的分析是對於球形、真圓度、磨圓度、長徑比、球度...等，提供專業且精準的測試數據；是其他顆粒測試設備所不具備的。