導電材料電阻性能測試系統：廣泛應用於碳系導電材料、金屬系導電材料、金屬氧化物系導電材料、結構型高分子導電材料、複合型導電材料..等材料的電阻性能測量。
測量溫度範圍：RT~600℃/1000℃
電阻測量範圍：1nΩ~1GΩ
樣品規格尺寸：10x10x20 mm
半導體材料電阻性能測試系統：廣泛應用於半導體材料矽(Si)及鍺(Ge)、化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)及銻化銦(InSb)、三元化合物半導體材料GaAsAl及GaAsP、固溶體半導體Ge-Si及GaAs-GaP...等材料的電阻率性能測量。
測量溫度範圍：RT~600℃/1000℃
電阻測量範圍：0.1mΩ~100MΩ
樣品規格尺寸：Φ<20 mm ；d5mm
絕緣材料電阻性能測試系統：該系統採用三環電極法設計原理，並使用絕緣材料專利特殊夾具，使絕緣材料可以測量高溫、真空、惰性氣體條件下，測量各種材料電阻、體電阻率及漏電流..等各種電阻性試驗，同時還可以分析被測試樣品隨溫度、時間之曲線變化。
測量溫度範圍：RT~600℃/1000℃
電阻測量範圍：100Ω~1PΩ
樣品規格尺寸：Φ<25 mm ；d<4mm
.png)
