動態雷射粒徑分析儀-DLS

DLS測試原理─採用動態光散射原理與光子相關光譜，根據顆粒在液體中的布朗運動速度測試顆粒大小。依循大小顆粒的運動速度不同，經雷射照射，不同大小的顆粒將使散射光產生快慢不同的漲落起伏，再透過光子相關光譜法，根據特定角度觀察光子漲落分析顆粒尺寸。 獨特極高的辨識度─採用PCS技術測定奈米等級之顆粒，能夠分辨奈秒級(ns)之信號起伏。
高靈敏度與雜訊比─專業級高性能光電倍增管(PMT)對於光子訊號有極高的靈敏度與雜訊比。